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菲希爾X射線測厚儀XDL230關鍵技術參數

1. X 射線源與探測器

X 射線管：帶鈹窗口的鎢靶 X 射線管，可選微聚焦型

高壓調節：30kV、40kV、50kV 三檔可調，功率 50W

探測器：比例接收器 (Proportional Counter Tube)，確保高計數率與快速測量

準直器：標準 φ0.3mm，可選 φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 矩形

最小測量光斑：約 0.2mm (使用 φ0.1mm 準直器時)

濾光片：固定或 3 個自動切換選項

2. 測量能力

元素范圍：氯 (Cl, 17) 至鈾 (U, 92)

同時測量元素數：最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)

鍍層測量標準：符合 ISO 3497 與 ASTM B 568

測量方法：FISCHER 基本參數法 (FP)，支持無標樣測量

穩定性：長期穩定性優異，減少校準頻率

FISCHER代理核心功能特點

無損檢測：非接觸、無損傷測量，保護樣品原貌

DCM 技術：測量距離補償方法，可在 0-80mm 范圍內自由選擇測量距離，適配復雜形狀樣品與腔體內部測量

精準定位：高分辨率彩色 CCD 攝像頭 (40-160 倍放大)+ 激光定位輔助，快速精確對準測量點

智能分析：內置基本參數法，無需標準片即可分析鍍層系統、固體與液體樣品

多模式測量：支持鍍層厚度測量、材料成分分析、電鍍槽液分析 (需配套附件)

靈活樣品適應：可測量平面、曲面、復雜形狀樣品，適用于各種尺寸工件