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菲希爾測厚儀X射線XAN215信息
點擊次數(shù):84 更新時間:2026-01-04

菲希爾 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入門級經(jīng)濟型 X 射線熒光測厚儀,專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設計,具備高性價比、操作簡便、精度可靠的特點,符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標準

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心功能與測量能力

1. 分析能力

成分分析:可分析金、銀、鉑、鈀、銠等貴金屬及其合金,包括黃 / 白金、K 金等

鍍層測厚:適用于單層 / 多層鍍層系統(tǒng),如金鍍層、銠鍍層等厚度測量

基礎參數(shù)法:無需校準即可分析固體、液體樣品及鍍層系統(tǒng),提高測量靈活性

2. 操作與軟件系統(tǒng)

控制軟件:標配 WinFTM® BASIC 軟件,可選 WinFTM® SUPER 高級版

數(shù)據(jù)處理:PC 端操作,支持數(shù)據(jù)管理、報告生成、結果可視化

用戶交互:直觀界面,簡化測量流程,減少培訓成本


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