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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500雙功能一體化測量

單次測量同時獲取涂層厚度與材料成分數據，無需重復操作

支持多層涂層(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 與合金涂層(如鋅鎳合金) 的精確分析

采用菲希爾基本參數法 (FP 法)，可在無需校準標樣的情況下分析固、液態樣品

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度測量系統

高分辨率硅漂移檢測器 (SDD)，提供分析精度與探測靈敏度，尤其適合超薄鍍層測量

3 點支撐設計，確保每次測量時位置準確、儀器穩定，提升重復性精度

測量點直徑3 毫米，適合小面積樣品檢測